產品資料

高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber

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產品名稱: 高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber
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簡單介紹

高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber適用于考核產品(整機)、元器件、零部件等經受溫度急劇變化的能力,該溫度沖擊試驗能夠了解試驗樣品一次或連續多次因溫度變化而帶來的影響。影響溫度變化試驗的主要參數為溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值、樣品在高溫和低溫下的保持時間、以及試驗的循環次數等因素。高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber


高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber  的詳細介紹

高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber


高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber簡介:本試驗箱適用于考核產品(整機)、元器件、零部件等經受溫度急劇變化的能力,該溫度沖擊試驗能夠了解試驗樣品一次或連續多次因溫度變化而帶來的影響。影響溫度變化試驗的主要參數為溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值、樣品在高溫和低溫下的保持時間、以及試驗的循環次數等因素。

高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber技術參數

型號

TS 60
TS 120
TS 120 P
TS 300
TS 300 P
測試空間容積
l
60
120
120
300
300
移動提籃最大負載
kg
20
50
50
100
100

試驗空間尺寸:

 高(H)x寬(W)x深(D) m

mm
370x380x430
410x470x650
410x470x650
610x770x650 
610x770x650
熱箱溫度范圍
°C
+50 至 +220
+50 至 +220
+50 至 +220
+50 至 +220
+50 至 +220
冷箱溫度范圍
°C
–80 至 +70
–80 至 +70
–80 至 +70
–80 至 +70
–80 至 +70
熱箱升溫速率①
K/min
17.0
14.0
18.0
11.0
23.0
冷箱降溫速率①
K/min
3.7
6.3
7.5
5.0
12.0 
冷箱升溫速率,單箱操作①
K/min
3.2
2.0
2.0
1.5
1.5
溫度波動度②
K
±0.3 至 ±1.0
±0.3 至 ±1.0
±0.3 至 ±1.0
±0.3 至 ±1.0
±0.3 至 ±1.0
溫度均勻性③
K
±0.5 至 ±2.0
±0.5 至 ±2.0
±0.5 至 ±2.0
±0.5 至 ±2.0
±0.5 至 ±2.0
熱/冷箱轉換時間
sec
<10
<10 <10
<10
<10
恢復時間–溫度變化測試
min
<15④
<15⑤ 
<12⑥
<15⑦
<15⑧
熱箱校準值⑨
°C
+125
+125
+125
+125
+125
冷箱校準值⑨
°C
–40
–40
–40
–40
–40

① 根據IEC 60068-3-5。通過選擇提升/降低熱箱/冷箱溫度來提高溫度變化速率。

②有效測試空間中心點。 

③基于設置點;溫度范圍 –65 °C to +200 °C。 

④MIL-STD-883 E,方法 1010.9,強度級 D ,4.5 kg ICs 分布于2個樣品架內,樣品內測量。 

⑤MIL-STD-883 J,方法 1010.9,強度級 D,12 kg ICs 分布于3個樣品架內,樣品內測量。 

⑥MIL-STD-883 F,方法 1010.9,強度級 D,20 kg ICs 分布于3個樣品架內,樣品內測量。 

⑦ MIL-STD-883 J,方法 1010.9,強度級 F,25 kg ICs 分布于3個樣品架內,樣品內測量。 

⑧ MIL-STD-883 F,方法 1010.9,強度級 F,50 kg ICs 分布于3個樣品架內,樣品內測量。 

⑨出廠計量。



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